AOI-System GEM Compact

Automatisches optisches Tabletop Inspektionssystem

gem table top

GEM Compact
Pastendruck-, Bestück- und Lötstellenkontrolle

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Die GEM Compact von MVP dient zur automatischen optischen Inspektion nach jedem beliebigen Prozess der Leiterplattenfertigung. Das System verfügt über Elemente der High-Performance-AOI wie eine strukturierte Beleuchtung, eine On-the-fly-Kamerabilderfassung und eine Inspektionssoftware, die mit einer Bauteilebibliothek auf der Basis von Parametern arbeitet.

Das AOI-System ist mit den technischen Hauptelementen und mit der Software der Inline-AOI-Systeme von MVP ausgestattet. Zu seinen Merkmalen zählen die Verwendbarkeit von CAD-Daten, eine vollständige Abdeckung möglicher Defekte, eine geringe Fehl-Erkennungsrate und eine hohe Inspektionsgeschwindigkeit.


Defekterkennung bei der AOI:

Post-Print-Inspektion (Pastendruckkontrolle):

AOI des Druckbildes von Pasten und Klebern bezüglich Flächenmittelpunkt (XY-Ebene), Fläche, Abdeckung der Lötpadfläche der Form sowie bezüglich einer Druckbildverschiebung bzw. Verdrehung der Leiterplatte relativ zum Drucker.

Post-Placement-Inspektion (Bestückungskontrolle):

Präsenz / Fehlen von Bauteilen, Messungen bzgl. X-, Y- und Theta-Versatz, Polarität und OCR.

Post-Solder-Inspektion (Lötstellenkontrolle):

AOI auf Präsenz oder Fehlen von SMT- und PTH-Teilen, Versatz der Bestückung, Polarität, Brückenbildung, Lotöffnungen, zu viel oder zu wenig Lot, Billboards, Tombstones, angehobene oder verbogene Anschlüsse. OCR / OCV zur Erkennung falscher Bauteile & Rückverfolgbarkeit.


Vorteile

  • Pastendruckinspektion, Bestückkontrolle und Lötstelleninspektion
  • Kompatibilität zu MVP Inline AOI-Systemen

  • Optimales Preis-Leistungs-Verhältnis
  • Kamera zur On-the-fly-Inspektion, die von Tischsystemen bisher unerreichte Geschwindigkeiten ermöglicht


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